Тематический план

  • Общее

    • Институт радиоэлектроники, фотоники и цифровых технологий, Кафедра электронных и квантовых средств передачи информации

      Специальность: 11.04.04 Электроника и наноэлектроника

      Индекс по учебному плану: Б1.О.07

      Дисциплина: Статистический контроль процессов, семестр: 3

      Количество часов: 144 из них

      лекции - 16

      практическая работа - 16

      самостоятельная работа - 76

      Форма контроля: экзамен

    • Основной целью изучения дисциплины является формирование знаний и навыков применения полученных знаний в области статистики и статистического контроля процессов на производстве.


      Основными задачами дисциплины являются:
      1) формирование знаний основ статистики в области математической обработки случайных событий;
      2) формирование навыков статистической обработки случайных событий;
      3) освоение статистических инструментов контроля качества.

  • Тема 1. Введение в статистические методы

    Лекция: 1
  • Тема 2. Простые инструменты контроля качества

  • Тема 3. Контроль независимых параметров процессов

  • Тема 4. Многомерный статистический контроль

  • Тема 5. Особенности контроля многопараметрического процесса

  • Тест

    Тест: 1